山田大路,田中峻,杉田直彦,適材適所で活かしたミネラルキャスティング工作機械,ツールエンジニア,2025年11月号,pp.70-75, 2025.
論文:IJPEM
Kim, H., Kim, Y., Ito, Y., Sugita, N., & Mitsuishi, M. (2025). Deep Learning-Based Phase Aberration Estimation for Ultra-Precise Silicon Wafer Metrology. International Journal of Precision Engineering and Manufacturing – Green Technology. https://doi.org/10.1007/s40684-025-00763-8
解説:月刊トライボロジー
杉田直彦, 工作機械における要素技術の最新動向, 月刊トライボロジー, 2025年10月号, pp.42-47, 2025.
